【鋰電世界】   掃描電鏡最常用于材料的形貌分析，可以用來(lái)研究合成條件對(duì)材料形貌的影響，結(jié)合其他測(cè)試方法可以確定合成路線，或?qū)Σ牧系男阅苓M(jìn)行解釋。給出深圳市天驕科技開(kāi)發(fā)有限公司在不同的合成條件下生產(chǎn)的NCA樣品，除了可以觀察形貌還可以看出一次顆粒的大小。由可見(jiàn)，合成條件對(duì)一次顆粒的大小有較大影響。

    為了提高圖像分辨率，必須設(shè)法抑制那些造成背景的二次電子SE2，在常規(guī)掃描電鏡中只能減小加速電壓，使作用區(qū)變小，但電子束亮度會(huì)明顯下降，圖像襯度和信噪比變差。給出深圳市天驕科技開(kāi)發(fā)有限公司生產(chǎn)的NCM811前驅(qū)體樣品在不同加速電壓下的掃描電鏡圖。由可以看出在SkV加速電壓下樣品的分辨率較好。
   
    但是在場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡中，物鏡內(nèi)安裝了環(huán)形二次電子探測(cè)器，分辨率顯著改善。